Сразу отвечаю на 2 самых популярных вопроса: 1. Как заказать на LCSC в Россию, Беларусь, Украину? - Я не знаю 2. Как и где купить Flipper Zero? - Я не знаю Думаю, что в обоих случаях гугл поможет

Классно что есть такие люди кто готов проводить такие долгие серьёзные тесты 👍

Где-то встречал статью про ремонт магнитолки - систематически дохли ЕЕПРомки. При анализе причины выяснилось, что заводская прошивка записывает уровень громкости при каждом шаге энкодера. В итоге за год-два ресурс памяти вырабатывался полностью

EEPROM умереть не может: он всегда будет жить в наших сердцах!

Руслан, твой подход к тестам - это нечто! Очень благодарен за это видео!

На самом деле память тестируют шахматкой, записывая 0х55, и 0хАА. Это позволяет создать наихудшие условия, в том числе повышает ликедж между ячейками, потому что ноль возле единицы и наоборот

Вот это реально полезные тесты, ребята давайте накидайте пальцев под видео, человек 2 месяца потратил на это. Заслуживает уважения, ещё раз спасибо.

Очень большая работа! Спасибо!

Спасибо за проделанную работу. Очень интересно.

Спасибо. Очень интересно и качественно сделан тест.

Спасибо за интересный тест!

Спасибо, познавательно! Отлично проведённые тесты.

Было бы неплохо еще и посмотреть реальную зависимость ресурса EEPROM от температуры эксплуатации

Спасибо! Реально очень полезное видео, также, как и с ресурсным тестом OLED экранов!

Спасибо за работу.

Очень интересно 🤝

Огромное спасибо за такие тесты - С меня Like и подписка. Побольше бы таких тестов.

как всегда ваши тесты огонь!)

Мега качественное видео, спасибо!

Спасибо. Интересное видео, интересный подход... Удачи Вам...

Спасибо. Полезно.

Спасибо большое за видео!!!

Классное видео. Очень интересное и полезное исследование. Спасибо!

Спасибо за ролик, интересно.

Круто! полезное видео. Всегда, при написании программ, проверяю чтобы eeprom записывалась при конкретном событии, а не в каждом цикле программы.

Отличный тест, с нетерпением жду такой же для SPI NOR-flash в SO8.

О, помню ОЛЕД экранчики жгли, теперь ЕЕПРОМки.. Интересные и длительные тесты!

Великолепное видео! Большое спасибо, что поделились такой ценной информацией!

Большая работа, интересно было посмотреть

классные у вас видео! спасибо

Отличная работа! Действительно эксклюзивная работа проведена и оформлен контент очень качественно! По больше бы такого материала в интернете как ваш. Так держать!

Хорошая работа, нужная. Лайк однозначно.

Практически ничего не понимаю в этом. Смотрел с перемотками. Но было интересно. В принципе, как я понял никакой воды. Возможно, и дальше буду смотреть ваши ролики. Оформление и подача материала очень и очень хороши. Благодарю.

Интересный тест ) Но проблема еще в том, что у поюзаных ячеек сильно портится retention, заряд начинает утекать в покое. Т.е. записав весь объем 2млн раз, и положив чип в печку на +85° на месяц - ошибки будут на порядок раньше. И видимо часть микросхем даже не выжмет паспортный миллион.

Спасибо огромнейшее. Очень полезная практическая информация. Подача материала на высшем уровне.

Отличное видео, спасибо автору за его труды! У меня остался только один вопрос: влияет ли в итоге операция чтения на ресурс EEPROM или только запись?

Да, было интересно. Для ускорения теста стоило подключать несколько микросхем одновременно.

👍 серьёзный тест!

Отлично! Спасибо за полезное видео! Ещё было бы наглядно сделать график цена/кол-во записей - посмотреть оптимальные варианты

Крутой контент! Топчик! Все ёмко и конкретно.

Спасибо, актуально.

Спасибо, вот это да! Классно, что вы сохранили интерес к такой деятельности, а не послали всё по бороде. Кста, была раньше память FRAM от Ramtron, вроде бесконечная и лучшая была (20 лет назад).

Ура вернулся!

фундаментальный вклад в анализ надёжности схем памяти 👍

Очень познавательно. Неоднократно видел проблемные микросхемы памяти в очень дорогих устройствах, например профессиональные фотоаппараты, муз оборудование. Я всегда очень злился, почему завод не тестировал микросхемы ОЗУ и ПЗУ циклами записи-чтения (это же так просто сделать служебную функцию в прошивке и простейший мемтест+ стресс-тест процессора минут на 40-час? чтобы все шары Bga прогрелись и если где-то отходит контакт-он бы проявился) перед установкой в устройство и продажи его за несколько тысяч долларов! Иногда была ошибка в ПО, например при записи нового трека прошивка не понимала что пустое место закончилось и записывала поверх служебных данных. Но это уже не относится к проблеме самих чипов, хотя н-р более грамотная архитектура могла бы разделить микросхему для основной прошивки и для данных и сделать их с планарными выводами для простой замены паяльным феном. и н-р сделать отдельный чип с калибровками, чтобы его можно было просто перенести на донорскую плату в случае гибели основной и не мучится. очень часто встречалась битая оперативная память, распаянная в устройствах, причём подлость такой проблемы что проявляется она часто редкими глюками через определенное время или при вызове определенных функций (например загрузке новых данных или выборе каких-то режимов, где заполняется буфер), а при попытке прошить такое устройство из-за ошибок в контрольных суммах в ОЗУ повреждается и ПЗУ и настоящая боль не только найти распиновку JTAG но и слить-собрать рабочий дамп, особенно если всё на BGA пайке. Решениеv станет проверка контрольных сумм после полной распаковки в память ли как по-умному сделано в некоторых прошивальщиках биоса, там дуал-биос-то есть основной и резервный и небольшими блоками перезаписываются по очереди причём со считываем записанного и сверкой после каждого блока. Такой прошивке не страшно даже экстренная потеря питания. Это как делать, если по умном, в своих устройствах. совет разработчикам-делайте стенд тестирования электронных плат своих устройств, минимум пару суток с повышенной температурой и влажностью, минимум 300-400 циклов проверки всех микросхем оперативной и постоянной памяти. разрабатывайте тесты мемтест для проверки, лучше встроенные с запуском комбинацией кнопок. иные проблемы из опыта: Дешевый некачественный текстолит тонкий, плохой припой BGA , неотмытый активный флюс, непропай под шарами в следствии несоблюдение температуры или некачественного флюса, завышенные напряжения питания-всё это приводит к глюкам и быстрой деградации... просчёты по охлаждению чувствительных к малейшему перегреву компонентов, BGA с краю платы где она изгибается... как Vik On неоднократно показывал в современных видеокартах. наверное книгу можно написать про косяки как не надо разрабатывать...

Вот почему на 20летних авто системы IMMO сбоить начинают(слёт синхры, ключей..).. А сейчас повально все автопроизводителе начали размещять ECU в подкапотном пространстве. Значит ресурс будет ещё меньше с учётом повышеной температуры. И наверно количество циклов монтаж-демонтаж тоже здоровья еепромкам не добавляют...

Спасибо что ты есть)

Мало кто слышал про FRAM, та, что "ферритовая". Она по ногам совместима с еепром 24й серии, только вечная. ОВЕН в свои старшие модели контроллеров её уже серийно применяет.

Все коротко, ясно и без воды

Руслан, твои тесты очень крутые. Красава 👍👍👍

Отлично организованное исследование с грамотно интерпретированными результатами! Респект! А проанализировать взаимосвязь между временем записи и живучестью микросхемы можно было посчитав коэффициент корреляции и отобразив точки на графике (вправо - время записи, вверх - живучесть).

Как всегда круто, спасибо

Очень интересно!

Фундаментальное исследование! Жму руку! 🤝 Столько времени потратить на такой тест! Жирнющий лайк!

Не верный подход к определению ресурса. Надежность зависит не только от количества циклов записи, но и от способности длительное время в статике хранить заряд и не допускать при этом ошибок. Количество циклов записи не связано пропорционально с вероятностью преждевременного стекания заряда. И это проблема не только Eeprom.

Спасибо за проделанную работу. На практике сталкивался с износом памяти, дает интересные эффекты.

Спасибо. Может пригодится.

Мощную работу проделал. Вроде и знаешь что ресурс памяти ограничен количество записи, но теперь буду аккуратнее

Колоссальная, грамотно проделанная работа! Спасибо!

Есть еще Ferroelectric RAM - тоже самое но только работает как флеш. Заявленный ресурс просто огромный. Можно найти полностью совместимую i2c, например FM24CL16B. Было бы интересно посмотреть на тесты такой памяти!

Я хоть и очень далёк от электроники, но мне очень интересно было посмотреть этот тест. Очень порадовал дотошный подход к тесту, а не просто количество записей в память пока оно не сгорит нафиг

Ура! Ещё есть люди, которые продолжают записывать хорошие и полезные видосы.

Ураааа! Новое видео, канал существует)))

Жалко что ты не взял один экземпляр fram для "внештатного" сравнения. Вещь просто шикарная. Рад видеть очередной ролик.

Вот это размах тестирования! Моё почтение.

полезный контент спс

Руслан ты красавчик, ас и профи своего дела слушая тебя даже забываешь моргать,

Здравствуйте. Очень нравится формат ресурсных испытаний. Ну и типа добить те "заветные 10 слов".

Ещё бы иметь анолизатор оставшегося ресурса EEPROM. Чтобы иметь возможность при ремонте узнать или предупредить износ памяти. Спасибо, очень познавательное видео.

Прекрасный эксперимент, как и всегда. Было бы очень интересно увидеть сами чипы растворенных в кислоте микросхем от STM и HANSCHIP. Есть подозрение, что китайцы перепаковали/перемаркировали Б/У микросхемы ST, уж слишком похож ресурс и время записи.

Тоже закупаюсь LCSC

Отличный качественный тест! Давно было интересно, сколько они на самом деле выдерживают циклов записи. Если в устройстве требуется часто писать в EERPOM, можно размазать запись на всю микросхему, организовав что-то вроде кольцевого буфера. Тогда эти миллионы записей можно умножить на количество страниц в микросхеме.

Спасибо, нужная информация. Подскажите пож. какой телефон в ролике?

Для экономии ресурса, в функцию запись/чтение, добавляют функцию проверки и сравнения значения перед записью (частенько выясняется, что и перезаписывать нет смысла, но это конечно редко в применение т.к. довольно специфично...

Спасибо, очень интересное исследование. Лет 5 назад делал настольную лампу с регулировкой яркости и памятью последней яркости. Тоже голову ломал, как не затереть встроенную память контроллера до дыр. В итоге, делаю паузу секунд в 5 перед тем как записать знаяение. То есть жду, пока пользователь перестаёт крутить яркость. Была ещё мысль придумать как то равномерный износ, но решил, что оно того не стоит))

Обзор, как всегда, на высоте. А какой анализатор уровней использовался ?

Пожалуй, самый интересный канал об электронике. Автору уважение, за то, что затрагивает такие непопулярные, но очень интересные темы.

Большую работу проделал, молодец.

не просто как всегда красавчик

Проделана огромная работа.

Новый видос 😳

Очень познавательное видео. Но, возможно, не бит становится сбойным - он просто отдаёт данные очень медленно и не вписывается в логику работы чипа, выходит за пределы временной диаграммы. По аналогии, у HDD хороший и сбойный сектор отличается очень большим разбросом по времени доступа (но в специальном режиме сбойные сектора можно прочитать). Не ясно наличие кодов коррекции в чипа и их уровень.

Классное исследование, неплохо было бы выпустить вторую часть с исследованием ресурса микросхем при повышенной температуре

Если я правильно понял, то тестировалась только первая страница памяти. Но вероятность безотказной работы всей микросхемы будет равна произведению вероятностей одной страницы на количество страниц. Понятно, что значение не должно сильно разниться, предполагая одинаковое качество материала, но всё же тест неточный.

Доброго времени суток! Руслан, спасибо Вам за познавательной контент. Не могли бы разобрать тему OpenWRT? В одном из видео Вы говорили что прошили свой роутер Asus. Заранее благодарю!

Спасибо очень познавательно, а с флешь будет тест

Вы затронули тему снижения ресурса при повышении температуры. Жаль, что не провели тест хотя бы одного чипа от каждого производителя. Было бы интересно сравнить

как методика -- классно 👍 и интересно 👍, но, увы, конкретные результаты малоприменимы, потому что для какого-то более-менее достоверного прогноза по надёжности придётся тестировать некотороую выборку из каждой партии (для по-настоящему ответственных устройств делается именно и только так, невзирая на имена и результаты прошлых тестов);

Приветствую. Так в итоге есть какой то результат по статической записи и динамической? Или ячейки выходили из строя случайным образом?

Не выдержан режим тестирования. По сути затвор был 24/7 в состоянии работы и там протекали процессы диффузии и электромиграции, как бы вел себя завтвор при другом режиме работы. Формально у нас был линейный работы. Есть же отличие. Вообще не понял о чём тест, как показометр да. Кажется мне что плохое питание более актуальная проблема.

Спасибо! Сейчас часто в ТВ стали умирать чипы памяти, теперь знаю от чего

Самая большая проблема таких тестов, то что они НЕ тестируют ресурс. EEPROM содержит изолированный затвор в котором "запираются" электроны в момент записи. Проблема с износом в том, что при каждом стирании эта структура деградирует что приводит к повышенной утечке электронов. И в таком тесте всё будет чики поки - мы записали, тут же считали и всё хорошо, но хороши только потому, что у электронов не было времени "убежать" и только уже при очень сильном износе начинается то, что плавающий затвор не может совсем держать заряд. Если записать и оставить на день/неделю/месяц/год, то ошибки появятся и при меньшем количестве циклов записи, именно поэтому цифры в даташите и результат такого теста сильно отличается. P.S. А теперь такой же тест с FRAM(MB85RC256V) пожалуйста! 😁

В целом видео очень полезное, самое забавное что я не так давно закончил один проект ради прикола где на разработанной печатной плате распаяны 24 микросхемы EEPROM и я использую эту штуку как флешку для компа, не стоит судить о целесообразности ее нет, просто была горка микрух немного времени и желание сотворить что-то.

Замечательная работа, но мне кажется выявленный запас ресурса связан с тем что запись велась только на одну страницу. Интересно было бы хотя бы для одного производителя оставшиеся неиспользованные микрухи разрушить полной перезаписью, что бы это подтвердить или опровергнуть. Стоит выбрать производителя с низким ресурсом но и низким разбросом, что бы корреляционная ценность была высокая но при этом не пришлось еще 2 месяца тратить:)

Ты крут, смотрю уже лет 5 твой ютуб, вроде ничего не понятно, но очень интересно, т.к. я более высокоуровневый программист (Java, PHP), ну и школа радиоэлектроники с детства, но все эти микроконтроллеры отдельный мир.

По поводу зависимости ресурса от быстродействия: нужно было раскидать точки на плоскости скорость VS ресурс. И там была бы видна корреляция.

спасибо. не чего не понятно, но очень интересно. 🤣 еще бы тесты spi flash 25 серии. эти то точно всем мозг вынесли😋

Наткнулся на комментарии про влияние качества питания. И вот что подумал, ведь запись происходит путём стирания страницы и записи новой, и для этого нужно воздействие продолжительное на изолированную ячейку полем. И есть подозрение что время воздействия будет зависеть от входящего питания. Т.е. по идее при более низком напряжении питания время записи должно увеличиваться. Если это так то при нестабильном питании контроллер еепромки может просто некорректно выставлять длительность. Тем самым сильнее повреждать ячейки при записи если длительность больше чем надо, либо если длительность меньше чем надо нечётко записывать информацию.

Давно задавался этим вопросом но в интернете нет информации

О как мне бы не помешал этот тест лет 20 назад.