Miroslave, děkuju za koment. Souhlasím, s tím měřením to tak je. Jednu ukázku se zdrojem a milivoltmetrem jsem dělal v závěru, jen mi kamera ostřila jinam než měla, tak to není moc koukatelné. Pro ilustraci to snad ale stačí :-)

Napadají mě jen metody, které jsem zmínil ve videu, tedy polít desku lihem nebo ji postříkat chladícím sprejem a pak ji připojit na napájení. Tam, kde se to bude odpařovat nejrychleji, tam je pravděpodobná poloha zkratu. Velikým pomocníkem by mohla být i termokamera, ale i ta nemusí být nejpřesnější, protože jakmile se někde něco zahřeje, tak se ohřeje i větší/menší okolí, což u SMD součástek může být zásadní. Ale fungovat by to mohlo. Třeba mě ještě někdo doplní a zmíní další metodu.

@@technical-view-channel-cz Ahoj TVchCZ asi nej jednodušší primární zjištění zkratu v zařízení je zapojit do série s napájením žárovku podmínkou je zvolit vhodnou watáž žárovky pro to které konkrétní zařízení - pokud bude žárovka svítit plným jasem máme v zařízení zkrat - toto má však velmi omezené použití a nelze tuto metodu využít pro nevýkonové obvody. Asi nejlepší metoda pro přímé vyhledávání vadných či zkratovaných součástek je tzv. sledovač křivek (ať už už se jedná o primitivní Octopus, nebo sofistikovanější verze sledovače napojené na osciloskop v režimu XY nebo ty nej sledovače s vlastní obrazovkou (za to co takový speciální přístroj stojí jezdí někteří autem - cena se pohybuje až k 150t korun za dvoukanál, jsou i průmyslové automaty pro vícebodový test desek, ale to je raketa i okolo mega) . Některé analogové osciloskopy měli funkci "TEST COMPONENT" jednalo se o klasické zapojení převzaté ze sledovače Octopus upravené podle vnitřního zapojení osciloskopu. Jak to vlastně funguje každá součástka má svůj charakteristický průběh a tomu odpovídá i charakteristická odezva resp. obraz na osciloskopu, dá se tedy poznat nejen zkrat takové součástky, ale i uhnutí od parametrů pokud není součástka v přímém zkratu, je však potřeba znát charakteristiky jednotlivých součástek - jednak se to dá zjistit na netu - existují celé tabulky průběhů a nebo se dá provézt komparační měření podle prokazatelně zdravé součástky. Některé sledovače dokáží měřit dvě součástky současně a jejich obraz na obrazovce překrýt, můžeme tedy na jeden výstup připojit zdravou součástku, na druhý podezřelou a okamžitě vidíme rozdíl. Nebo můžeme porovnávat dva dps - jeden zdravý, druhý vadný a pod. Klasický Octopus má však trochu problém z prolínáním obrazů okolních součástek a chce to trochu cviku jednotlivé obrazy rozluštit, sofistikovanější sledovače dokáží vhodným nastavením do jisté míry okolní součástky eliminovat. Krásný den a hodně tvůrčích úspěchů přeje 😷Tom PS.: super videa 👍

@Tomáš Hájek Ahoj Tome. Díky za doplňující informace. S tou žárovkou je to dobrý tip, ale nejsem si jistý, jak jsi myslel její připojení do obvodu se zkratem, aby její jas byl v případě zkratu maximální. To by se musela nějaká cesta obvodu přerušit, tam pak připojit žárovku a sledovat co se stane, ne? Spíš mi přijde smysluplnější ji připojovat mezi dvě různé cesty s rozdílným napětím. Tam, kde její jas poklesne, tam bude zkrat. Sice to nepomůže identifikovat konkrétní vadnou součásku jako v případě měření mili-ohmetrem, ale aspoň jistou oblast. I tak to ale vyžaduje jisté obvodové znalosti, aby se připojením žárovky nezaťěžovaly třeba výstupní periferie mikrokontroléru apod. UPDATE: Už mi to došlo, jak jsi to myslel. Napsal jsi to docela jasně, já jen měl myšlenky zaměřené na elektronické desky s jemnou elektronikou (pracovní deformace) a tak jsem si představoval, že bych musel přerušovat cestičku a tam žárovku připojovat. No, takže ve tvém případě jde o testování zařízení jako takového, které se připojí do sítě přes žárovku a podle toho, jestli se rozsvítí, tak je v zařízení problém, že? Na tohle téma má pěkné video KUBA64, kde popisoval i jistá úskalí tohoto testu.